Table | Card | RUSMARC | |
Allowed Actions: View |
Annotation
Анализ оптических свойств соединений на основе 3d-элементов позволяет получать ценную информацию об электронной структуре основного состояния и низкоэнергетических возбуждениях. Показано, что анализ d-d-экситонов с переносом заряда в диэлектрической антиферромагнитной фазе купратов и метастабильных низкоэнергетических электронно-дырочных EH-димеров как результата их эволюции, с учетом электрон-решеточной релаксации, оказывается весьма плодотворным не только для описания линейных и нелинейных оптических свойств и фотоиндуцированных эффектов, но и для разработки перспективной модели зарядовых триплетов для описания низкоэнергетической электронной структуры и фазовых T-x-диаграмм активных CuO[2]-плоскостей в купратах типа T-La[2]CuO[4] или T-Nd[2]CuO[4], а также NiO[2]-плоскостей в никелатах типа RNiO[2] и их эволюции при изменении основных энергетических параметров.
Included in
Usage statistics
Access count: 38
Last 30 days: 28 Detailed usage statistics |