Details
| Title | Влияние интерференции в тонких пленках на оптические характеристики голограмм, зарегистрированных на слоях As-Se // Оптика и спектроскопия. – 2023. – С. 1080-1085 |
|---|---|
| Creators | Ганжерли Н. М. |
| Imprint | 2023 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Физика; Физическая оптика; голограммы; оптические характеристики; тонкие пленки; интерференция; голография на слоях; стеклообразные полупроводники; показатель преломления; дифракционная эффективность голограмм |
| UDC | 535.2/3 |
| LBC | 22.343 |
| Document type | Article, report |
| File type | Other |
| Language | Russian |
| DOI | 10.61011/OS.2023.08.56299.4859-23 |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\72199 |
| Record create date | 12/14/2023 |
Проведена оценка влияния интерференции в тонких пленках на оптические характеристики голограмм, зарегистрированных на слоях халькогенидного стеклообразного полупроводника системы As-Se. Измерены изменения величины отражения, пропускания и оптической разности хода лучей в процессе воздействия актиничного излучения He-Ne лазера на слои. Показано, что интерференционные явления в тонких пленках приводят к колебаниям этих характеристик, а также к колебанию дифракционной эффективности голограмм при изменении толщины слоя.
Access count: 17
Last 30 days: 2
