Details

Title: Выбор спектральных переменных в многопараметрической калибровке концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии // Оптика и спектроскопия
Creators: Бельков М. В.; Борисевич Д. А.; Кацалап К. Ю.; Ходасевич М. А.
Collection: Общая коллекция
Subjects: Физика; Спектроскопия; низколегированные стали; эмиссионная спектроскопия; лазерно-искровая спектроскопия; многопараметрическая калибровка; спектральные переменные; спектры низкого разрешения; легирующие добавки
UDC: 535.33
LBC: 22.344
Document type: Article, report
File type: Other
Language: Russian
DOI: 10.21883/OS.2022.10.53634.3895-22
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Record key: RU\SPSTU\edoc\69519

Allowed Actions: View

Annotation

По эмиссионным спектрам низкого разрешения (190-440 nm, разрешение 0.4 nm, шаг по спектру 0.1 nm) разработаны многопараметрические модели калибровки концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu методом частичных наименьших квадратов в выборках, содержащих от 31 до 39 эталонов низколегированных сталей. Рассмотрены три метода выбора спектральных переменных: метод ранжирования спектральных переменных по их коэффициенту корреляции с величиной искомого параметра, алгоритм последовательного проецирования и оригинальная модификация метода поиска комбинации движущихся окон. Модель частичных наименьших квадратов с выбором спектральных переменных методом поиска комбинации движущихся окон для C является количественной: среднеквадратичное отклонение 0.004%, остаточное отклонение в проверочной выборке 23.4 в диапазоне концентраций от 0.13 до 0.43%. Количественными являются также калибровки концентраций Mn (0.04% и 5.2 в диапазоне 0.47-1.15%), Si (0.003% и 20.7 в диапазоне 0.15-0.33%), Cr (0.04% и 3.1 в диапазоне 0.09-0.43%) и Ni (0.01% и 4.8 в диапазоне 0.05-0.25%). Для Cu в диапазоне концентраций 0.06-0.26% калибровка является качественной (0.04% и 1.4).

Usage statistics

stat Access count: 2
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics