Выбор спектральных переменных в многопараметрической калибровке концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии / М. В. Бельков, Д. А. Борисевич, К. Ю. Кацалап, М. А. Ходасевич. — 1 файл (213 Кб). — (Прикладная оптика). — DOI 10.21883/OS.2022.10.53634.3895-22. — Текст: электронный // Оптика и спектроскопия. – 2022. – С. 1611-1616. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49748265>.
|
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
|
Yesterday
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Last 30 days
|
0
|
0
|
0
|
3
|
3
|
|
Last 365 days
|
0
|
0
|
0
|
20
|
20
|
|
All time
|
0
|
0
|
0
|
26
|
26
|
