Рехвиашвили, С. Ш. Исследование влияния оптического излучения на интегральную микросхему ТТЛ-типа = Nvestigation of the effect of optical radiation on the TTL integrated circuit / С. Ш. Рехвиашвили, Д. С. Гаев. — 1 файл (543 Кб). — (Элементы интегральной электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2024-29-3-310-318. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2024. – Т. 29, № 3. — С. 310-318. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=67881706>.
| Period | Read | Copy | Open | Total | |
|---|---|---|---|---|---|
| Yesterday | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Last 30 days | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Last 365 days | 0 | 0 | 0 | 11 | 11 |
| All time | 0 | 0 | 0 | 11 | 11 |