Полунин, М. Н. Исследование методов тестирования SINAD аналого-информационных преобразователей = Research of analog-to-information converters SINAD testing techniques / М. Н. Полунин, В. В. Лосев, Ю. А. Чаплыгин. — 1 файл (672 Кб). — (Элементы интегральной оптики). — DOI 10.24151/1561-5405-2022-27-5-603-612. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2022. – С. 603-612. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=49562235>.
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
Year 2022
|
Quarter 4
|
0
|
0
|
0
|
1
|
1
|
Year 2023
|
Quarter 1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
Quarter 2
|
0
|
0
|
0
|
103
|
103
|
Quarter 3
|
0
|
0
|
0
|
3
|
3
|
Quarter 4
|
0
|
0
|
0
|
2
|
2
|
Year 2024
|
Quarter 1
|
0
|
0
|
0
|
5
|
5
|
Quarter 2
|
0
|
0
|
0
|
5
|
5
|
Quarter 3
|
0
|
0
|
0
|
1
|
1
|
Total
|
0
|
0
|
0
|
120
|
120
|