Usage statistics

Моделирование процесса распыления карбида кремния фокусированным пучком ионов галлия = Simulation of silicon carbide sputtering by gallium focused ion beam / А. В. Румянцев, О. В. Подорожний, Р. Л. Волков, Н. И. Боргардт. — 1 файл (562 Кб). — (Технологические процессы и маршруты). — DOI 10.24151/1561-5405-2022-27-4-463-474. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2022. – С. 463-474. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=49396191>.

stat
Period Read Print Copy Open Total
Year 2022 Quarter 4 December 0 0 0 1 1
Year 2023 Quarter 1 January 0 0 0 0 0
February 0 0 0 0 0
March 0 0 0 0 0
Quarter 2 April 0 0 0 1 1
May 0 0 0 2 2
June 0 0 0 0 0
Quarter 3 July 0 0 0 0 0
August 0 0 0 0 0
September 0 0 0 2 2
Quarter 4 October 0 0 0 1 1
November 0 0 0 3 3
December 0 0 0 3 3
Year 2024 Quarter 1 January 0 0 0 0 0
February 0 0 0 0 0
March 0 0 0 1 1
Quarter 2 April 0 0 0 0 0
May 0 0 0 1 1
June 0 0 0 0 0
Quarter 3 July 0 0 0 2 2
August 0 0 0 0 0
September 0 0 0 1 1
Quarter 4 October 0 0 0 1 1
Total 0 0 0 19 19