Алгоритм автоматического контроля внешнего вида ИС на основе вычисления пиксельного расстояния = Algorithm for automatic inspection of the surface of integrated circuits based on calculation of pixel distance / Б. В. Ширяев, Д. П. Аргунов, Ю. С. Жидик [и др.]. — 1 файл (1,38 Мб). — (Технологические процессы и маршруты). — DOI 10.24151/1561-5405-2024-29-4-432-446. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2024. – Т. 29, № 4. — С. 432-446. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=68621701>.
| Period | Read | Copy | Open | Total | |||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Year 2024 | Quarter 3 | September | 0 | 0 | 0 | 5 | 5 |
| Quarter 4 | October | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |
| November | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | ||
| Total | 0 | 0 | 0 | 5 | 5 | ||