Electronic Documents Search

Documents found: 1

1

Особенности TCAD- и SPICE-моделирования удара заряженной частицы в 6T-ячейку статической памяти, изготовленную по КМОП-технологии с проектными нормами 28 нм // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 6. — С. 826-837

Creators	Петросянц К. О.; Силкин Д. С.; Попов Д. А.; Исмаил-Заде М. Р.; Харитонов И. А.; Переверзев Л. Е.; Морозов А. А.; Тургенев П. В.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; заряженые частицы; удары заряженных частиц; SPICE-моделирование ударов; TCAD-моделирование ударов; ячейки статической памяти; КМОП-технологии; транзисторы; charged particles; charged particle impacts; SPICE-shock simulation; TCAD-shock simulation; static memory cells; CMOS technology; transistors
UDC	621.382
LBC	32.852
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-6-826-837
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://elibrary.ru/item.asp?id=55172144

1