Electronic Documents Search

Documents found: 4

1

Влияние потерь в соединениях при измерении коэффициента усиления и коэффициента шума на анализаторе спектра // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 6. — С. 794-801

Creators	Крупкина Т. Ю.; Лосев В. В.; Беневоленский С. Б.; Хлыбов А. И.; Родионов Д. В.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Энергетика; Электрические измерения; анализаторы спектров; коэффициенты шумов; коэффициенты усиления; измерение коэффициентов; электрические соединения; потери в соединениях; температура шумов; spectrum analyzers; noise coefficients; gain coefficients; coefficient measurement; electrical connections; connection losses; noise temperature
UDC	621.317
LBC	31.221
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-6-794-801
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://elibrary.ru/item.asp?id=55172141

Моделирование средствами TCAD воздействия тяжелых заряженных частиц на n-МОП-структуру в составе ячейки памяти // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 3. — С. 385-390

Creators	Смирнова В. П.; Крупкина Т. Ю.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Энергетика; Детали и узлы электрических аппаратов; Вычислительная техника; Имитационное компьютерное моделирование; n-МОП-структуры; ячейки памяти (электроника); тяжелые заряженные частицы; математическое моделирование; средства TCAD; интегральные микросхемы; полупроводники; n-mosfet structures; memory cells (electronics); heavy charged particles; mathematical modeling; TCAD tools; integrated circuits; semiconductors
UDC	621.3; 004.94
LBC	31.264-04; 32.973-018.2
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-3-385-390
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54011399

Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем: в 2 ч. Ч. 1. Технологические процессы изготовления кремниевых интегральных схем и их моделирование. — 3-е изд.

Creators	Королев М. А.; Крупкина Т. Ю.; Ревелева М. А.
Imprint	Москва: Лаборатория знаний, 2015
Collection	ЭБС "Айбукс.ру/ibooks.ru"; Общая коллекция
Subjects	Микроэлектронные схемы интегральные — Математическое моделирование
UDC	621.3.049.77:519.876.5
Document type	Tutorial
File type	Other
Language	Russian
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://ibooks.ru/reading.php?short=1&productid=350119

Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных микросхем: в 2 ч. Ч. 2. Элементы и маршруты изготовления кремниевых ИС и методы их математического моделирования. — 3-е изд.

Creators	Королёв М. А.; Крупкина Т. Ю.; Путря М. Г.; Шевяков В. И.
Imprint	Москва: Лаборатория знаний, 2015
Collection	ЭБС "Айбукс.ру/ibooks.ru"; Общая коллекция
Subjects	Микроэлектронные схемы интегральные — Математическое моделирование
UDC	621.3.049.77:519.876.5
Document type	Tutorial
File type	Other
Language	Russian
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://ibooks.ru/reading.php?short=1&productid=350103

1