Electronic Documents Search

Documents found: 1

1

Исследование методов тестирования SINAD аналого-информационных преобразователей // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2022. – Т. 27, № 5. — С. 603-612

Creators	Полунин М. Н.; Лосев В. В.; Чаплыгин Ю. А.
Imprint	2022
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Квантовая электроника; аналого-информационные преобразователи; тестирование аналого-информационных преобразователей; аналого-цифровые преобразователи; сжатая дискретизация; случайные демодуляторы; коэффициент искажения; analog-to-information converters; testing of analog-to-information converters; analog-to-digital converters; compressed sampling; random demodulators; distortion factor
UDC	621.375
LBC	32.86
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2022-27-5-603-612
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://elibrary.ru/item.asp?id=49562235

1