Electronic Documents Search

Documents found: 1

1

Моделирование средствами TCAD воздействия тяжелых заряженных частиц на n-МОП-структуру в составе ячейки памяти // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 3. — С. 385-390

Creators	Смирнова В. П.; Крупкина Т. Ю.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Энергетика; Детали и узлы электрических аппаратов; Вычислительная техника; Имитационное компьютерное моделирование; n-МОП-структуры; ячейки памяти (электроника); тяжелые заряженные частицы; математическое моделирование; средства TCAD; интегральные микросхемы; полупроводники; n-mosfet structures; memory cells (electronics); heavy charged particles; mathematical modeling; TCAD tools; integrated circuits; semiconductors
UDC	621.3; 004.94
LBC	31.264-04; 32.973-018.2
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-3-385-390
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54011399

1