Electronic Documents Search
Documents found: 7
-
Creators Шевцов Михаил Андреевич Scientific adviser Титов Андрей Иванович Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций Imprint Санкт-Петербург, 2016 Collection Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция Subjects ионная имплантация; инженерия дефектов; RBS/C анализ; радиационные дефекты; полупроводники; структурные нарушения в кремнии; ion implantation; defect engineering; RBS/C analysis; radiation defrcts; semiconductors; structural changes in silicon Document type Bachelor graduation qualification work File type PDF Language Russian Level of education Bachelor Speciality code (OKSO) 210100 Speciality group (OKSO) 210000 - Электронная техника, радиотехника и связь DOI 10.18720/SPBPU/2/v16-2769 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 1.1 Mb -
Creators Баран Л. В. Imprint 2022 Collection Общая коллекция Subjects Физика; Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях; пленки титана; свойства пленок титана; структурно-фазовые состояния; механические свойства; имплантированные ионами бора; ионы бора; ионная имплантация; titanium films; properties of titanium films; structural-phase states; mechanical properties; implanted with boron ions; boron ions; ion implantation UDC 537.533/534 LBC 22.338 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.30791/0015-3214-2022-3-5-13 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49019458 -
Creators Жангиреев Д.; Шемякин А. В.; Белостоцкая С. О.; Сивченко А. С. Imprint 2024 Collection Общая коллекция Subjects Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; МОП-транзисторы; электрофизические характеристики; приборно-технологическое моделирование; компактные модели; пороговое напряжение; быстродействие; ионная имплантация; MOSFETs; electrophysical characteristics; instrumentation-technological modeling; compact models; threshold voltage; performance; ion implantation UDC 621.382 LBC 32.852 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.24151/1561-5405-2024-29-5-585-594 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://elibrary.ru/item.asp?id=72753284 -
Creators Семин В. О.; Чернова А. П.; Еркович А. В.; Остапенко М. Г.; Дьяченко Ф. А.; Савкин К. П.; Хабибова Е. Д.; Мейснер Л. Л. Imprint 2023 Collection Общая коллекция Subjects Физика; Физика твердого тела. Кристаллография в целом; Химия; Физико-химические методы анализа; сплавы; поверхностные слои сплавов; структура поверхностных слоев; электрохимические свойства; имплантация ионов; ионы титана; ионы ниобия; alloys; surface layers of alloys; structure of surface layers; electrochemical properties; ion implantation; titanium ions; niobium ions UDC 539.2; 543.4/5 LBC 22.37; 24.46/48 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.30791/0015-3214-2023-6-5-23 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://www.elibrary.ru/item.asp?id=64906843 -
Creators Быстров С. Г.; Решетников С. М.; Колотов А. А.; Баянкин В. Я. Imprint 2023 Collection Общая коллекция Subjects Физика; Физика твердого тела. Кристаллография в целом; хромоникелевые стали; коррозионно-электрохимические свойства; состав хромоникелевых сталей; имплантация ионов; аргон; кислород; азот; chromium-nickel steels; corrosion-electrochemical properties; composition of chromium-nickel steels; ion implantation; argon; oxygen; nitrogen UDC 539.2 LBC 22.37 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.30791/0015-3214-2023-3-5-17 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://elibrary.ru/item.asp?id=54096049 -
Creators Клевцов А. И.; Карасев П. А.; Карабешкин К. В.; Титов А. И. Imprint 2023 Collection Общая коллекция Subjects Физика; Ядерная физика в целом; альфа-оксид галлия; малые уровни повреждений; имплантация ионов; накопление структурных нарушений; радиационные дефекты; каскады столкновений (атомная физика); резерфордовское обратное рассеяние; gallium alpha oxide; small damage levels; ion implantation; accumulation of structural disorders; radiation defects; collision cascades (atomic physics); rutherford backscattering UDC 539.1 LBC 22.38 Document type Article, report File type PDF Language Russian DOI 10.18721/JPM.16404 Rights Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 0.5 Mb -
Creators Афанасьев А. В.; Ильин В. А.; Лучинин В. В. Imprint 2022 Collection Общая коллекция Subjects Энергетика; Полупроводниковые материалы и изделия; карбид кремния; ионное легирование; силовая электроника; приборы силовой электроники; обзоры; ионная имплантация; активационный отжиг; silicon carbide; ion doping; power electronics; power electronics devices; reviews; ion implantation; activation annealing UDC 621.315.592 LBC 31.233 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.24151/1561-5405-2022-27-4-439-462 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://elibrary.ru/item.asp?id=49396190
