?

Детальная информация
Таблица Карточка RUSMARC
Название: Использование методов атомно-силовой микроскопии для контроля качества поверхности: бакалаврская работа
Авторы: Барышникова Анна Алексеевна
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2015
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тип документа: Другой
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\27415

Разрешенные действия: –

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

В работе произведено описание методики режимов атомно-силовой микроскопии и приведены примеры их использования. Была исследована топография клеток E.Coli, определены их размеры.Были проведены исследования распределения модуля Юнга на поверхности клеток E.Coli по измеренным кривым подвода-отвода.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Оглавление

  • Работа допущена к защите
    • Р Е Ф Е Р А Т
  • Введение
  • 2. Контактные режимы работы атомно-силового микроскопа и их использование для изучения свойств поверхности
    • 2.1 Физические основы работы атомно-силового микроскопа в контактном режиме
    • 2.2 Использование контактных режимов для исследования свойств поверхности
  • 3. Полуконтактные режимы работы атомно-силового микроскопа и их использование для изучения свойств поверхности
    • 3.1 Физические основы работы атомно-силового микроскопа в полуконтактном режиме
    • 3.2 Использование полуконтактных режимов для исследования свойств поверхности
  • 4. Кривые подвода-отвода в атомно-силовой микроскопии и их использование для расчета упругих свойств и адгезии на поверхности
    • 4.1 Физические основы использования кривых подвода-отвода для определения упругих свойств
    • 4.2 Использование кривых подвода-отвода для определение упругих свойств
    • 4.3 Постановка Задачи Герца и ее применение для расчета модуля Юнга по кривым подвода-отвода
  • 5.Методика эксперимента
  • 6.Результаты эксперимента
  • Выводы:
  • Список использованных источников:

Статистика использования

stat Количество обращений: 743
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика