Детальная информация
| Название | Исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных пленок методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии: бакалаврская работа: 16.03.01 |
|---|---|
| Авторы | Петрухно Константин Алексеевич |
| Научный руководитель | Габдуллин Павел Гарифович |
| Организация | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург, 2016 |
| Коллекция | Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция |
| Тематика | полевая эмиссия; тонкие пленки углерода; сканирующая туннельная микроскопия; туннельная спектроскопия; фотопроводимость; field emission; a thin film of carbon; scanning tunneling microscopy; tunneling spectroscopy; photoconductivity |
| Тип документа | Выпускная квалификационная работа бакалавра |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Уровень высшего образования | Бакалавриат |
| Код специальности ФГОС | 16.03.01 |
| Группа специальностей ФГОС | 160000 - Физико-технические науки и технологии |
| DOI | 10.18720/SPBPU/2/v16-2760 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\35033 |
| Дата создания записи | 16.12.2016 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Было проведено исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных плёнок, выращенных на подложках монокристаллического кремния методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии. Показана различная реакция областей на внешнее облучение.
Emission-active thin carbon films grown at monocrystalline silicon substrates were studied by the methods of scanning tunneling microscopy and tunneling spectroscopy. Spatial non-uniformity of photoirradiation effect onto electric properties has been detected.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
Количество обращений: 388
За последние 30 дней: 0
