Детальная информация

Название: Исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных пленок методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии: бакалаврская работа: 16.03.01
Авторы: Петрухно Константин Алексеевич
Научный руководитель: Габдуллин Павел Гарифович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2016
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: полевая эмиссия; тонкие пленки углерода; сканирующая туннельная микроскопия; туннельная спектроскопия; фотопроводимость; field emission; a thin film of carbon; scanning tunneling microscopy; tunneling spectroscopy; photoconductivity
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 16.03.01
Группа специальностей ФГОС: 160000 - Физико-технические науки и технологии
Ссылки: http://doi.org/10.18720/SPBPU/2/v16-2760

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (1,1 Мб) Для чтения документа необходим Flash Player

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Локальная сеть ИБК СПбПУ

Аннотация

Было проведено исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных плёнок, выращенных на подложках монокристаллического кремния методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии. Показана различная реакция областей на внешнее облучение.

Emission-active thin carbon films grown at monocrystalline silicon substrates were studied by the methods of scanning tunneling microscopy and tunneling spectroscopy. Spatial non-uniformity of photoirradiation effect onto electric properties has been detected.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
-> Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования документа

stat Количество обращений: 360
За последние 30 дней: 12
Подробная статистика