Детальная информация

Петрухно, Константин Алексеевич. Исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных пленок методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии [Электронный ресурс]: бакалаврская работа: 16.03.01 / К. А. Петрухно; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; науч. рук. П. Г. Габдуллин. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 1,05 МБ). — Санкт-Петербург, 2016. — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/v16-2760.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/2/v16-2760>.

Дата создания записи: 16.12.2016

Тематика: полевая эмиссия ; тонкие пленки углерода; сканирующая туннельная микроскопия; туннельная спектроскопия; фотопроводимость; field emission ; a thin film of carbon; scanning tunneling microscopy; tunneling spectroscopy; photoconductivity

Коллекции: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция

Ссылки: DOI

Разрешенные действия: Прочитать Загрузить (1,1 Мб) Для чтения документа необходим Flash Player

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Было проведено исследование поверхности эмиссионно-активных тонких углеродных плёнок, выращенных на подложках монокристаллического кремния методами туннельной микроскопии и туннельной спектроскопии. Показана различная реакция областей на внешнее облучение.

Emission-active thin carbon films grown at monocrystalline silicon substrates were studied by the methods of scanning tunneling microscopy and tunneling spectroscopy. Spatial non-uniformity of photoirradiation effect onto electric properties has been detected.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Все Прочитать Печать Загрузить

Статистика использования документа

stat Количество обращений: 316
За последние 30 дней: 9
Подробная статистика