Детальная информация

Название: Исследование накопления радиационных дефектов в кремнии при облучении ионами PFn+: бакалаврская работа: 210100
Авторы: Шевцов Михаил Андреевич
Научный руководитель: Титов Андрей Иванович
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2016
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: ионная имплантация; инженерия дефектов; RBS/C анализ; радиационные дефекты; полупроводники; структурные нарушения в кремнии; ion implantation; defect engineering; RBS/C analysis; radiation defrcts; semiconductors; structural changes in silicon
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Бакалавриат
Код специальности ОКСО: 210100
Группа специальностей ОКСО: 210000 - Электронная техника, радиотехника и связь
DOI: 10.18720/SPBPU/2/v16-2769
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\35061

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Работа посвящена исследованию накопления структурных нарушений в кремнии при облучении атомарными и молекулярными ионами для создания светоизлучающих структур на основе дислокационной люминесценции, и включает в себя обзор литературных данных, методику эксперимента и экспериментальные данные с описанием результатов.

Accumulation of structural defects in silicon irradiated with atomic and molecular ions was investigated. The study is directed onto development of light-emitting structures based on dislocation luminescence. The thesis includes a literary data review, describes experimental techniques, presents and discusses the acquired experimental results.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 264
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика