Использование методов атомно-силовой микроскопии для изучения топографии поверхности кремниевых плас...

Пиотровский, Георгий Александрович. Использование методов атомно-силовой микроскопии для изучения топографии поверхности кремниевых пластин [Электронный ресурс]: бакалаврская работа: 11.03.04 / Г. А. Пиотровский; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; науч. рук. Н. Т. Сударь. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 1,56 Мб). — Санкт-Петербург, 2017. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/v17-4857.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/2/v17-4857>.

Внимание
Чтение недоступно

Вернуться к просмотру информации о документе