Последние поступления

Найдено документов: 166 535

Описание Дата поступления
32211
Анализ морфологии поверхности буферных слоёв CdTe с помощью эллипсометрии и интерференционной профилометрии для создания методики контроля роста буферных слоёв = Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers / В. А. Швец, Д. В. Марин, Л. С. Кузнецова [и др.]. — 1 файл. — (Физика полупроводников и элементы оптоэлектроники). — DOI 10.17586/1023-5086-2024-91-02-50-58. — Текст: электронный // Оптический журнал = Journal of optical technology: научно-технический журнал / Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова, Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики. – 2024. – № 2. — С. 50-58. — Загл. с титул. экрана. — Статья, представленная на 8-ой Российской конференции и школе молодых учёных "Фотоника-2023". — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://eivis.ru/browse/issue/13195682/viewer?udb=12&page=53>.
25.10.2024
32212 25.10.2024
32213 25.10.2024
32214 25.10.2024
32215 25.10.2024
32216 25.10.2024
32217 25.10.2024
32218 24.10.2024
32219 24.10.2024
32220 24.10.2024