Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] = Local analysis of semiconductor nanoobjects by scanning tunneling atomic force microscopy / Н.А. Лашкова, Н.В. Пермяков, А.И. Максимов и др. — (Физика конденсированного состояния). — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 532 Кб) // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. – Санкт-Петербург. – 2015. – Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/5448.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JPM.213.3>.
|
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
|
Year 2015
|
51
|
0
|
57
|
0
|
108
|
|
Year 2016
|
29
|
0
|
27
|
0
|
56
|
|
Year 2017
|
35
|
0
|
29
|
0
|
64
|
|
Year 2018
|
31
|
0
|
84
|
0
|
115
|
|
Year 2019
|
21
|
0
|
31
|
0
|
52
|
|
Year 2020
|
37
|
0
|
17
|
0
|
54
|
|
Year 2021
|
32
|
0
|
25
|
0
|
57
|
|
Year 2022
|
24
|
0
|
27
|
0
|
51
|
|
Year 2023
|
22
|
0
|
49
|
0
|
71
|
|
Year 2024
|
6
|
0
|
16
|
0
|
22
|
|
Total
|
288
|
0
|
362
|
0
|
650
|
