Details
| Title | Сравнение методов оценки степени когерентности излучения полупроводниковых лазеров по картинам интерференции: магистерская диссертация |
|---|---|
| Creators | Харисов Рустам Ильясович |
| Organization | Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций |
| Imprint | Санкт-Петербург, 2015 |
| Collection | Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция |
| Subjects | Генераторы квантовые полупроводниковые ; Лазерное излучение ; Интерферометры |
| UDC | 621.373.826:535.4(043.3) |
| Document type | Other |
| File type | |
| Language | Russian |
| Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\27109 |
| Record create date | 8/27/2015 |
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
Action 'Download' will be available if you login or access site from another network
| Group | Anonymous |
|---|---|
| Network | Internet |
В работе сравнивается классический метод определения длины когерентности лазера по контрасту полос, и спекл-метод, использующий числа Эйлера. Эксперимент проведён на интерферометре Майкельсона с переменной оптической разностью хода в несколько сантиметров с двумя полупроводниковыми лазерами. Результаты указывают на справедливость и перспективность нового метода.
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
| Internet | Authorized users SPbPU |
|
| Internet | Anonymous |
|
Access count: 856
Last 30 days: 0
