Details

Title: Сравнение методов оценки степени когерентности излучения полупроводниковых лазеров по картинам интерференции: магистерская диссертация
Creators: Харисов Рустам Ильясович
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2015
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: Генераторы квантовые полупроводниковые; Лазерное излучение; Интерферометры
UDC: 621.373.826:535.4(043.3)
Document type: Other
File type: PDF
Language: Russian
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key: RU\SPSTU\edoc\27109

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В работе сравнивается классический метод определения длины когерентности лазера по контрасту полос, и спекл-метод, использующий числа Эйлера. Эксперимент проведён на интерферометре Майкельсона с переменной оптической разностью хода в несколько сантиметров с двумя полупроводниковыми лазерами. Результаты указывают на справедливость и перспективность нового метода.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 856
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics