Vasiliev, A. E. Contribution of internal ionization processes in semiconductors to radiative losses of relativistic electrons = Вклад процессов внутренней ионизации полупроводников в тормозные потери энергии релятивистских электронов / A. E. Vasiliev, V. V. Kozlovski, S. N. Kolgatin. — 1 файл (322 Кб). — DOI 10.18721/JPM.13301. — Текст: электронный // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки. – 2020. – С. 7-14. — Загл. с титул. экрана. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/j20-215.pdf>.
| Period | Read | Copy | Open | Total | |
|---|---|---|---|---|---|
| Yesterday | 0 | 0 | 1 | 0 | 1 |
| Last 30 days | 5 | 0 | 6 | 0 | 11 |
| Last 365 days | 41 | 0 | 57 | 0 | 98 |
| All time | 126 | 0 | 154 | 0 | 280 |