Детальная информация

Название: Стандартизация, сертификация, метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие
Авторы: Радчук Наталия Борисовна; Ушаков Александр Юрьевич
Организация: Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
Выходные сведения: Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2013
Электронная публикация: Санкт-Петербург, 2020
Коллекция: Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Тематика: Полупроводники — Параметры — Измерение; Стандартизация; Метрология
УДК: 621.382.08(075.8); 006.9(075.8)
Тип документа: Учебник
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Код специальности ФГОС: 11.00.00
Группа специальностей ФГОС: 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
DOI: 10.18720/SPBPU/2/si20-285
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: RU\SPSTU\edoc\62880

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

Соответствует содержанию разделов дисциплины «Метрология, стандартизация и технические измерения» государственного образовательного стандарта по направлению подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Изложены основные цели, понятия, правовые и организационные основы стандартизации, сертификации, метрологии с учетом последних изменений в области реформирования системы технического регулирования в Российской Федерации. Подробно рассмотрены методы электрических и оптических измерений физических параметров материалов электронной техники.Предназначено для использования студентами при выполнении курсовых, бакалаврских, магистерских и научно-исследовательских работ. Некоторые части пособия могут использоваться студентами, обучающимися по направлению 210700.62 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» и др.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Внешние организации №2 Все Прочитать
Внешние организации №1 Все Прочитать
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи (не СПбПУ) Прочитать
-> Интернет Анонимные пользователи

Оглавление

  • ОГЛАВЛЕНИЕ
  • Введение
  • 1. Основы стандартизации
  • 2. Основы сертификации
  • 3. Основы метрологии
  • 4. Полупроводниковые материалы
  • 5. Методы электрических измерений параметров полупроводниковых материалов
  • 6. Оптические методы измерения параметров полупроводниковых материалов
  • Библиографический список
  • Приложения

Статистика использования

stat Количество обращений: 121
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика