Детальная информация
| Название | Стандартизация, сертификация, метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие |
|---|---|
| Авторы | Радчук Наталия Борисовна ; Ушаков Александр Юрьевич |
| Организация | Санкт-Петербургский государственный политехнический университет |
| Выходные сведения | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2013 |
| Электронная публикация | Санкт-Петербург, 2020 |
| Коллекция | Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция |
| Тематика | Полупроводники — Параметры — Измерение ; Стандартизация ; Метрология |
| УДК | 621.382.08(075.8) ; 006.9(075.8) |
| Тип документа | Учебник |
| Тип файла | |
| Язык | Русский |
| Код специальности ФГОС | 11.00.00 |
| Группа специальностей ФГОС | 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи |
| DOI | 10.18720/SPBPU/2/si20-285 |
| Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\62880 |
| Дата создания записи | 08.09.2020 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
| Группа | Анонимные пользователи |
|---|---|
| Сеть | Интернет |
Соответствует содержанию разделов дисциплины «Метрология, стандартизация и технические измерения» государственного образовательного стандарта по направлению подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Изложены основные цели, понятия, правовые и организационные основы стандартизации, сертификации, метрологии с учетом последних изменений в области реформирования системы технического регулирования в Российской Федерации. Подробно рассмотрены методы электрических и оптических измерений физических параметров материалов электронной техники.Предназначено для использования студентами при выполнении курсовых, бакалаврских, магистерских и научно-исследовательских работ. Некоторые части пособия могут использоваться студентами, обучающимися по направлению 210700.62 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» и др.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
| Место доступа | Группа пользователей | Действие |
|---|---|---|
| Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
| Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
| Интернет | Анонимные пользователи |
|
- ОГЛАВЛЕНИЕ
- Введение
- 1. Основы стандартизации
- 2. Основы сертификации
- 3. Основы метрологии
- 4. Полупроводниковые материалы
- 5. Методы электрических измерений параметров полупроводниковых материалов
- 6. Оптические методы измерения параметров полупроводниковых материалов
- Библиографический список
- Приложения
Количество обращений: 370
За последние 30 дней: 1
