Детальная информация

Название Стандартизация, сертификация, метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие
Авторы Радчук Наталия Борисовна ; Ушаков Александр Юрьевич
Организация Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
Выходные сведения Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2013
Электронная публикация Санкт-Петербург, 2020
Коллекция Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция
Тематика Полупроводники — Параметры — Измерение ; Стандартизация ; Метрология
УДК 621.382.08(075.8) ; 006.9(075.8)
Тип документа Учебник
Тип файла PDF
Язык Русский
Код специальности ФГОС 11.00.00
Группа специальностей ФГОС 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
DOI 10.18720/SPBPU/2/si20-285
Права доступа Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи RU\SPSTU\edoc\62880
Дата создания записи 08.09.2020

Разрешенные действия

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа Анонимные пользователи
Сеть Интернет

Соответствует содержанию разделов дисциплины «Метрология, стандартизация и технические измерения» государственного образовательного стандарта по направлению подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Изложены основные цели, понятия, правовые и организационные основы стандартизации, сертификации, метрологии с учетом последних изменений в области реформирования системы технического регулирования в Российской Федерации. Подробно рассмотрены методы электрических и оптических измерений физических параметров материалов электронной техники.Предназначено для использования студентами при выполнении курсовых, бакалаврских, магистерских и научно-исследовательских работ. Некоторые части пособия могут использоваться студентами, обучающимися по направлению 210700.62 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» и др.

Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ
Прочитать Печать Загрузить
Интернет Анонимные пользователи
  • ОГЛАВЛЕНИЕ
  • Введение
  • 1. Основы стандартизации
  • 2. Основы сертификации
  • 3. Основы метрологии
  • 4. Полупроводниковые материалы
  • 5. Методы электрических измерений параметров полупроводниковых материалов
  • 6. Оптические методы измерения параметров полупроводниковых материалов
  • Библиографический список
  • Приложения

Количество обращений: 368 
За последние 30 дней: 0

Подробная статистика