Детальная информация
Название | Стандартизация, сертификация, метрология и технические измерения параметров полупроводниковых материалов: учебное пособие |
---|---|
Авторы | Радчук Наталия Борисовна ; Ушаков Александр Юрьевич |
Организация | Санкт-Петербургский государственный политехнический университет |
Выходные сведения | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2013 |
Электронная публикация | Санкт-Петербург, 2020 |
Коллекция | Учебная и учебно-методическая литература ; Общая коллекция |
Тематика | Полупроводники — Параметры — Измерение ; Стандартизация ; Метрология |
УДК | 621.382.08(075.8) ; 006.9(075.8) |
Тип документа | Учебник |
Тип файла | |
Язык | Русский |
Код специальности ФГОС | 11.00.00 |
Группа специальностей ФГОС | 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи |
DOI | 10.18720/SPBPU/2/si20-285 |
Права доступа | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
Ключ записи | RU\SPSTU\edoc\62880 |
Дата создания записи | 08.09.2020 |
Разрешенные действия
–
Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети
Группа | Анонимные пользователи |
---|---|
Сеть | Интернет |
Соответствует содержанию разделов дисциплины «Метрология, стандартизация и технические измерения» государственного образовательного стандарта по направлению подготовки бакалавров 210100.62 «Электроника и наноэлектроника». Изложены основные цели, понятия, правовые и организационные основы стандартизации, сертификации, метрологии с учетом последних изменений в области реформирования системы технического регулирования в Российской Федерации. Подробно рассмотрены методы электрических и оптических измерений физических параметров материалов электронной техники.Предназначено для использования студентами при выполнении курсовых, бакалаврских, магистерских и научно-исследовательских работ. Некоторые части пособия могут использоваться студентами, обучающимися по направлению 210700.62 «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» и др.
Печатается по решению редакционно-издательского совета Санкт-Петербургского государственного политехнического университета.
Место доступа | Группа пользователей | Действие |
---|---|---|
Локальная сеть ИБК СПбПУ | Все |
|
Интернет | Авторизованные пользователи СПбПУ |
|
Интернет | Анонимные пользователи |
|
- ОГЛАВЛЕНИЕ
- Введение
- 1. Основы стандартизации
- 2. Основы сертификации
- 3. Основы метрологии
- 4. Полупроводниковые материалы
- 5. Методы электрических измерений параметров полупроводниковых материалов
- 6. Оптические методы измерения параметров полупроводниковых материалов
- Библиографический список
- Приложения
Количество обращений: 368
За последние 30 дней: 0