Details

Title: Исследование доноров азота в кристаллах карбида кремния методом высокочастотного электронного парамагнитного резонанса: выпускная квалификационная работа бакалавра: 11.03.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.03.04_04 - Микроэлектроника и твердотельная электроника
Creators: Криворучко Артём Дмитриевич
Scientific adviser: Фирсов Дмитрий Анатольевич
Organization: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint: Санкт-Петербург, 2019
Collection: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Subjects: электронный парамагнитный резонанс; X-диапазон; W-диапазон; широкозонный полупроводник; карбид кремния; electronic paramagnetic resonance; X-band; W-band; wide band semiconductor; silicon carbide
Document type: Bachelor graduation qualification work
File type: PDF
Language: Russian
Speciality code (FGOS): 11.03.04
Speciality group (FGOS): 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
Links: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-3562
Rights: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions:

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group: Anonymous

Network: Internet

Annotation

В данной работе проведены исследования доноров азота в широкозонном полупроводнике SiC. Записаны ЭПР спектры образцов SiC на спектрометрах 9.4 ГГц и 94 ГГц. Полученные g-факторы и константы сверхтонкой структуры согласуются с теоретическими данными. Было проведено сравнение спектров, записанных на частоте 9.4 ГГц и 94 ГГц, что показало большее разрешение по g-фактору при большей частоте. В результате проведённых исследований было подтверждено одно из основных преимуществ ЭПР метода в однозначном определении вида примеси и её положения в кристалле.

In this work, we studied nitrogen donors in a wide-gap semiconductor SiC. The EPR spectra of SiC samples were recorded on X-range and W-range spectrometers. Obtained g-factors and the hyperfine structure constants are consistent with theoretical data. A comparison was made of the spectra recorded on X-range and W-range, which showed a large x-factor resolution at a higher frequency. As a result of the research, it was confirmed one of the main advantages of the EPR method in unambiguously determining the type of impurity and its position in the crystal.

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users Read Print Download
-> Internet Anonymous

Usage statistics

stat Access count: 55
Last 30 days: 0
Detailed usage statistics