Details

Title Исследование порфириновых структур с помощью сканирующего туннельного микроскопа: выпускная квалификационная работа бакалавра: 11.03.04 - Электроника и наноэлектроника ; 11.03.04_04 - Микроэлектроника и твердотельная электроника
Creators Ариас Муньоз Хуан Камило
Scientific adviser Рыков Сергей Александрович
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций
Imprint Санкт-Петербург, 2019
Collection Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция
Subjects сканирующая туннельная микроскопия ; игла-зонд ; туннельный ток ; рельеф ; локальный туннельный спектр ; наностержни ; напряжение смещения ; порфирин ; scanning tunneling microscopy ; tip-probe ; tunnel current ; relief ; local tunneling spectrum ; nanorods ; bias voltage ; porphyrin
Document type Bachelor graduation qualification work
File type PDF
Language Russian
Level of education Bachelor
Speciality code (FGOS) 11.03.04
Speciality group (FGOS) 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
Links Отзыв руководителя ; Рецензия ; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI 10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-4822
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key ru\spstu\vkr\1935
Record create date 9/11/2019

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Action 'Download' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

С помощью сканирующего туннельного микроскопа изучены особенности топографии поверхности пленка порфирина на кристалле графита и локальные вольтамперные характеристики при комнатных условии. Получены изображения топографии в масштабах от несколько нанометров до 4 мкм. Локальные вольтамперные характеристики, измеренные при разных напряжении смещения и разных направлениях его развертки свидетельствуют о наличии метастабильных электронных состояний в порфирине.

Features of the surface topography of the porphyrin film on the graphite crystal substrate and the local current-voltage characteristics were studied using a scanning tunneling microscope at ambient conditions. STM images of surface were acquired at scale from some nanometers to 4 micrometers. The local current-voltage characteristics at different bias voltages scale and at different directions of scaling indicate the existence of the metastable electron states in porphyrin.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print Download
Internet Authorized users SPbPU
Read Print Download
Internet Anonymous

Access count: 34 
Last 30 days: 0

Detailed usage statistics