Детальная информация

Название: Газофазное осаждение слоев диоксида кремния в системе октаметилциклотетрасилоксан-озон-кислород: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» ; образовательная программа 28.03.01_01 «Технологии материалов и изделий микросистемной техники»
Авторы: Воронович Ева Игоревна
Научный руководитель: Филатов Леонид Анатольевич
Другие авторы: Филатов Леонид Анатольевич
Организация: Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт машиностроения, материалов и транспорта
Выходные сведения: Санкт-Петербург, 2021
Коллекция: Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция
Тематика: химическое осаждение из газовой фазы; диоксид кремния; слои; октаметилциклотетрасилоксан; CVD; silicon dioxide; films; OMTS
Тип документа: Выпускная квалификационная работа бакалавра
Тип файла: PDF
Язык: Русский
Уровень высшего образования: Бакалавриат
Код специальности ФГОС: 28.03.01
Группа специальностей ФГОС: 280000 - Нанотехнологии и наноматериалы
Ссылки: Отзыв руководителя; Отчет о проверке на объем и корректность внешних заимствований
DOI: 10.18720/SPBPU/3/2021/vr/vr21-2963
Права доступа: Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Ключ записи: ru\spstu\vkr\12648

Разрешенные действия:

Действие 'Прочитать' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети Действие 'Загрузить' будет доступно, если вы выполните вход в систему или будете работать с сайтом на компьютере в другой сети

Группа: Анонимные пользователи

Сеть: Интернет

Аннотация

В данной работе рассмотрено получение тонких слоев диоксида кремния методом химического осаждения из газовой фазы. Проведена серия экспериментов по получению пленок диоксида кремния при различных параметрах осаждения. Исследованы свойства осажденных слоев, а также влияние температуры и давления на скорость роста и характеристики полученных пленок.

In this work, the preparation of thin layers of silicon dioxide by chemical vapor deposition is considered. A series of experiments was carried out to obtain silicon dioxide films at various deposition parameters. The properties of the deposited layers, as well as the effect of temperature and pressure on the growth rate and characteristics of the obtained films, are investigated.

Права на использование объекта хранения

Место доступа Группа пользователей Действие
Локальная сеть ИБК СПбПУ Все Прочитать Печать Загрузить
Интернет Авторизованные пользователи СПбПУ Прочитать Печать Загрузить
-> Интернет Анонимные пользователи

Статистика использования

stat Количество обращений: 2
За последние 30 дней: 0
Подробная статистика