Details

Объекты исследования ‒ полупроводниковые тонкопленочные фотовольтаические структуры для предметов одежды и предметов снаряжения. Цель работы ‒ разработка метода диагностики качества полупроводниковых тонкопленочных фотовольтаических структур для одежды и предметов снаряжения. Были решены следующие задачи: ‒ провести анализ научно-теоретических подходов к использованию полупроводниковых тонкопленочных фотовольтаических структур; ‒ провести диагностику качества полупроводниковых тонкопленочных фотовольтаических структур путем исследования их фоточувствительности и с помощью поляризационной технологии их мониторинга; ‒ провести контроль качества одежды и предметов снаряжения и разработать предложения по применению метода диагностики качества полупроводниковых тонкопленочных фотовольтаических структур. Исследования проводились на базе лаборатории товароведения и экспертизы потребительских товаров ВШСТ ИМПЭиТ СПбПУ и ООО «Материк». В работе использованы органолептические и инструментальные методы оценки качества товаров. Обработка экспериментальных данных проводилась с помощью программного обеспечения (пакета анализа данных) MS Excel. В работе использованы статистические базы данных Росстата, дерево ТНВЭД ЕАЭС, СВБД «Консультант Плюс». По результатам работы разработаны предложения по диагностике качества полупроводниковых тонкопленочных фотовольтаических структур путем исследования их фоточувствительности и с помощью поляризационной технологии их мониторинга.

Objects of study: Semiconductor thin-film photovoltaic structures for clothing and equipment. Purpose of the work: To develop a method for quality diagnostics of semiconductor thin-film photovoltaic structures for clothing and equipment. The following tasks were addressed: ‒ to analyze scientific and theoretical approaches to the application of semiconductor thin-film photovoltaic structures; ‒ to diagnose the quality of semiconductor thin-film photovoltaic structures by investigating their photosensitivity and by using polarization monitoring technology for semiconductor thin-film photovoltaic structures; ‒ to conduct quality control of clothing and equipment and to develop recommendations for the application of the quality diagnostic method for semiconductor thin-film photovoltaic structures. Research was conducted at the Laboratory of Commodity Science and Consumer Goods Expertise of the Higher School of Service and Trade, Institute of Industrial Management, Economics and Trade, Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University, and at LLC «Materik». The work utilized organoleptic and instrumental methods for assessing product quality. Experimental data were processed using MS Excel software (data analysis package). The work made use of statistical databases from Rosstat (Russian Federal State Statistics Service), the EAEU Commodity Nomenclature of Foreign Economic Activity (TN VED) classification system, and the «ConsultantPlus» legal reference system. Based on the results of the work, proposals have been developed for diagnosing the quality of semiconductor thin-film photovoltaic structures by investigating their photosensitivity and by using polarization technology for their monitoring.