Details

Title Исследование разогрева активной области мощных полупроводниковых лазеров: выпускная квалификационная работа бакалавра: направление 16.03.01 «Техническая физика» ; образовательная программа 16.03.01_11 «Полупроводниковая фотоника и наноэлектроника»
Creators Зайцев Вячеслав Алексеевич
Scientific adviser Мелентьев Григорий Александрович ; Шашкин И. С.
Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Институт электроники и телекоммуникаций
Imprint Санкт-Петербург, 2025
Collection Выпускные квалификационные работы ; Общая коллекция
Subjects полупроводниковый лазер ; гетероструктура ; квантовая яма ; показатель преломления ; волновод ; оптические потери ; фактор оптического ограничения ; разогрев активной области ; semiconductor laser ; heterostructure ; quantum well ; refractive index ; waveguide ; optical losses ; optical confinement factor ; active area heating
Document type Bachelor graduation qualification work
File type PDF
Language Russian
Level of education Bachelor
Speciality code (FGOS) 16.03.01
Speciality group (FGOS) 160000 - Физико-технические науки и технологии
DOI 10.18720/SPBPU/3/2025/vr/vr25-5262
Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Additionally New arrival
Record key ru\spstu\vkr\39426
Record create date 11/7/2025

Allowed Actions

Action 'Read' will be available if you login or access site from another network

Group Anonymous
Network Internet

В ходе работы были изучены основные механизмы нагрева активной области полупроводникового лазера. Был проведен поиск информации в глобальных компьютерных сетях. Использованы прикладные программы MATLAB, Mathcad, Origin для построения зависимостей тепловыделения и изменения температуры от толщины волновода. Проведен анализ полученных зависимостей и влияния доли алюминия в различных слоях гетероструктуры.

In the course of the work, the main mechanisms of heating the active region of a semiconductor laser were studied. Information was searched in global computer networks. The application programs MATLAB, Mathcad, Origin were used to construct the dependences of heat dissipation and temperature change on the thickness of the waveguide. The analysis of the obtained dependences and the influence of the proportion of aluminum in various layers of the heterostructure is carried out.

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read
Internet Authorized users SPbPU
Read
Internet Anonymous

Access count: 0 
Last 30 days: 0

Detailed usage statistics