Details

Данная работа посвящена исследованию влияния эпитаксиальной ориентации плёнки PbZrO3 на индуцированные температурой фазовые переходы. В результате исследования проанализированы литературные данные о структуре, доменных состояниях и фазовых переходах PbZrO3, проведены in-situ температурные дифракционные эксперименты и построены температурные зависимости сверхструктурных рефлексов. Показано, что эпитаксиальная ориентация изменяет устойчивость антисегнетоэлектрических доменов, проявление несоразмерной фазы и характер антиферродисторсионного порядка. Предложена качественная интерпретация наблюдаемых различий как результата домен-селективного упругого взаимодействия плёнки с подложкой. Применены программные средства CrysAlisPro для работы с дифрактометром SuperNova, Matlab и профильный программный пакет, включая самописное ПО, для обработки дифракционных данных. Использованы прикладные программные средства VESTA и ISODISTORT для симуляции дифракции от разных доменов и анализа вклада АСЭ-доменов в интенсивности различных R-точек. Результаты работы могут быть использованы при дальнейшем исследовании и управлении фазовыми переходами в эпитаксиальных антисегнетоэлектрических плёнках.

The given work investigates the effect of chosen crystallographic orientation on PbZrO3 epitaxial films temperature-induced phase transition. The study analyzes literature data on the structure, domain states, and phase transitions of PbZrO3, presents in-situ temperature diffraction experiments, and constructs temperature dependences of superstructure reflections. It is shown that epitaxial orientation changes the stability of antiferroelectric domains, the manifestation of the incommensurate phase, and the character of antiferrodistortive ordering. Signs of order-parameter separation are observed for the (111) film. The observed differences are interpreted qualitatively as a result of domain-selective elastic interaction between the film and the substrate. CrysAlisPro was used for operating the SuperNova diffractometer. Matlab and a specialized data-processing package, including custom software, were used for diffraction data processing. VESTA and ISODISTORT were used to simulate diffraction from different domains and to analyze the contribution of antiferroelectric domains to different R points. The results of the work can be used in further investigation and control of phase transitions in epitaxial antiferroelectric films.