Details
Title | Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения |
---|---|
Creators | Таперо К. И.; Улимов В. Н.; Членов А. М. |
Imprint | Москва: Лаборатория знаний, 2014 |
Collection | ЭБС "Айбукс.ру/ibooks.ru"; Общая коллекция |
Subjects | Микроэлектронные схемы интегральные |
UDC | 621.3.049.77 |
Document type | Other |
File type | Other |
Language | Russian |
Rights | Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) |
Record key | RU\IBOOK\books\350101 |
Record create date | 7/27/2020 |
В монографии анализируется влияние ионизирующих излучений (ИИ), преимущественно космического пространства, на характеристики изделий микро- и наноэлектроники. Рассмотрены: основы физики взаимодействий ИИ с полупроводниками; изменение электрофизических параметров приборных структур в результате образования наноразмерных дефектов под действием ИИ; дозовые ионизационные эффекты в структуре Si/SiO2 и их влияние на характеристики приборов и микросхем; особенности радиационных испытаний изделий, изготовленных по МОП-, КМОП-, а также по биполярной технологии, на стойкость к воздействию низкоинтенсивного ИИ; одиночные события в изделиях микро- и наноэлектроники при воздействии отдельных заряженных частиц. Для технических специалистов, работающих в области электроники, а также для студентов и аспирантов.
Access count: 16
Last 30 days: 1