Details
| Title | Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки: научное издание. – 2015. – № 1 (213) |
|---|---|
| Creators | Лашкова Наталья Алексеевна ; Пермяков Никита Вадимович ; Максимов Александр Иванович ; Спивак Юлия Михайловна ; Мошников Вячеслав Алексеевич |
| Organization | Министерство образования и науки Российской Федерации |
| Imprint | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2015 |
| Collection | Общая коллекция |
| Subjects | Полупроводники ; Наноструктурные материалы ; Микроскопия |
| UDC | 537.311.33(045) ; 620.22-022.53(045) |
| Document type | Article, report |
| Language | Russian |
| DOI | 10.5862/JPM.213.3 |
| Rights | Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
| Record key | RU\SPSTU\edoc\26400 |
| Record create date | 4/30/2015 |
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| ILC SPbPU Local Network | All |
|
| Internet | All |
|
Access count: 874
Last 30 days: 13
