Details

Title: Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки: научное издание. – 2015. – № 1 (213)
Creators: Лашкова Наталья Алексеевна; Пермяков Никита Вадимович; Максимов Александр Иванович; Спивак Юлия Михайловна; Мошников Вячеслав Алексеевич
Organization: Министерство образования и науки Российской Федерации
Imprint: Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2015
Collection: Общая коллекция
Subjects: Полупроводники; Наноструктурные материалы; Микроскопия
UDC: 537.311.33(045); 620.22-022.53(045)
Document type: Article, report
File type: PDF
Language: Russian
DOI: 10.5862/JPM.213.3
Rights: Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

Allowed Actions: Read Download (0.5 Mb)

Group: Anonymous

Network: Internet

Document access rights

Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All Read Print Download
Internet Authorized users Read Print Download
-> Internet Anonymous Read Print Download

Usage statistics

stat Access count: 442
Last 30 days: 10
Detailed usage statistics