Details

Title Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки: научное издание. – 2015. – № 1 (213)
Creators Лашкова Наталья Алексеевна ; Пермяков Никита Вадимович ; Максимов Александр Иванович ; Спивак Юлия Михайловна ; Мошников Вячеслав Алексеевич
Organization Министерство образования и науки Российской Федерации
Imprint Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2015
Collection Общая коллекция
Subjects Полупроводники ; Наноструктурные материалы ; Микроскопия
UDC 537.311.33(045) ; 620.22-022.53(045)
Document type Article, report
File type PDF
Language Russian
DOI 10.5862/JPM.213.3
Rights Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование)
Record key RU\SPSTU\edoc\26400
Record create date 4/30/2015

Allowed Actions

Read Download (0.5 Mb)

Group Anonymous
Network Internet
Network User group Action
ILC SPbPU Local Network All
Read Print Download
Internet All

Access count: 785 
Last 30 days: 14

Detailed usage statistics