Details
Title | Анализ локальных областей полупроводниковых нанообъектов методом туннельной атомно-силовой микроскопии // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки: научное издание. – 2015. – № 1 (213) |
---|---|
Creators | Лашкова Наталья Алексеевна ; Пермяков Никита Вадимович ; Максимов Александр Иванович ; Спивак Юлия Михайловна ; Мошников Вячеслав Алексеевич |
Organization | Министерство образования и науки Российской Федерации |
Imprint | Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2015 |
Collection | Общая коллекция |
Subjects | Полупроводники ; Наноструктурные материалы ; Микроскопия |
UDC | 537.311.33(045) ; 620.22-022.53(045) |
Document type | Article, report |
File type | |
Language | Russian |
DOI | 10.5862/JPM.213.3 |
Rights | Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование) |
Record key | RU\SPSTU\edoc\26400 |
Record create date | 4/30/2015 |
Access count: 785
Last 30 days: 14