Usage statistics

Сорокин, Лев Михайлович. Физические основы дифракционных методов и их применение для выявления и анализа дефектной структуры материалов микро- и наноэлектроники: учебное пособие / Л. М. Сорокин; Санкт-Петербургский государственный политехнический университет. — Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2011 (Санкт-Петербург, 2020). — 1 файл (5,41 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Цифровая копия печатной публикации 2011 г. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/si20-1799.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/2/si20-1799. — Текст: электронный

stat
Period Read Print Copy Open Total
Yesterday 0 0 0 0 0
Last 30 days 0 0 0 0 0
Last 365 days 1 0 3 0 4
All time 1 0 3 0 4