Сорокин, Лев Михайлович. Физические основы дифракционных методов и их применение для выявления и анализа дефектной структуры материалов микро- и наноэлектроники: учебное пособие / Л. М. Сорокин; Санкт-Петербургский государственный политехнический университет. — Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2011 (Санкт-Петербург, 2020). — 1 файл (5,41 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Цифровая копия печатной публикации 2011 г. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/si20-1799.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/2/si20-1799. — Текст: электронный
| Period | Read | Copy | Open | Total | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Year 2021 | Quarter 2 | 0 | 0 | 2 | 0 | 2 |
| Quarter 3 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | |
| Quarter 4 | 0 | 0 | 1 | 0 | 1 | |
| Year 2022 | Quarter 1 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |
| Quarter 2 | 0 | 0 | 1 | 0 | 1 | |
| Quarter 3 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |
| Quarter 4 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | |
| Year 2023 | Quarter 1 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |
| Quarter 2 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | |
| Quarter 3 | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 | |
| Quarter 4 | 1 | 0 | 1 | 0 | 2 | |
| Total | 6 | 0 | 5 | 0 | 11 | |