Usage statistics

Егоров, Дмитрий Алексеевич. Разработка метода Laplace-DLTS для определения параметров дефектов с глубокими уровнями в полупроводниковых структурах [Электронный ресурс]: выпускная квалификационная работа бакалавра: 03.03.02 - Физика ; 03.03.02_08 - Физика и технология наноструктур = Development of the Laplace-DLTS method for calculating the parameters of defects with deep levels in semiconductor structures / Д. А. Егоров; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; науч. рук. А. А. Липовский. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 0,8 Мб). — Санкт-Петербург, 2019. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/vr19-2874.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-2874>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2874-o.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2874-r.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2874-a.pdf>.

stat
Period Read Print Copy Open Total
Yesterday 0 0 0 0 0
Last 30 days 1 0 0 0 1
Last 365 days 1 0 0 0 1
All time 14 0 10 0 24