Егоров, Дмитрий Алексеевич. Разработка метода Laplace-DLTS для определения параметров дефектов с глубокими уровнями в полупроводниковых структурах [Электронный ресурс]: выпускная квалификационная работа бакалавра: 03.03.02 - Физика ; 03.03.02_08 - Физика и технология наноструктур = Development of the Laplace-DLTS method for calculating the parameters of defects with deep levels in semiconductor structures / Д. А. Егоров; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт физики, нанотехнологий и телекоммуникаций ; науч. рук. А. А. Липовский. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 0,8 Мб). — Санкт-Петербург, 2019. — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/vr19-2874.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.18720/SPBPU/3/2019/vr/vr19-2874>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2874-o.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2874-r.pdf>. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/3/2019/vr/rev/vr19-2874-a.pdf>.
|
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
|
Year 2019
|
Quarter 4
|
11
|
0
|
7
|
0
|
18
|
|
Year 2020
|
Quarter 1
|
2
|
0
|
3
|
0
|
5
|
|
Quarter 2
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 3
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 4
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
2021
|
Quarter 1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 2
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 3
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 4
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Year 2022
|
Quarter 1
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 2
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 3
|
0
|
0
|
0
|
0
|
0
|
|
Quarter 4
|
1
|
0
|
0
|
0
|
1
|
|
Total
|
14
|
0
|
10
|
0
|
24
|
