Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая туннельная микроскопия и атомарно-силовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур: учебное пособие / С. А. Рыков; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. — Частично дополнено и переработано. — Санкт-Петербург, 2022. — 1 файл (7,11 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:https://elib.spbstu.ru/dl/5/tr/2022/tr22-64.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/5/tr22-64. — Текст: электронный
|
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
|
Yesterday
|
0
|
0
|
1
|
0
|
1
|
|
Last 30 days
|
13
|
1
|
207
|
0
|
221
|
|
Last 365 days
|
67
|
1
|
2,088
|
0
|
2,156
|
|
All time
|
161
|
2
|
2,982
|
0
|
3,145
|
