Рыков, Сергей Александрович. Сканирующая туннельная микроскопия и атомарно-силовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур: учебное пособие / С. А. Рыков; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. — Частично дополнено и переработано. — Санкт-Петербург, 2022. — 1 файл (7,11 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:https://elib.spbstu.ru/dl/5/tr/2022/tr22-64.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/5/tr22-64. — Текст: электронный
|
Period
|
Read
|
Print
|
Copy
|
Open
|
Total
|
|
Year 2022
|
Quarter 2
|
17
|
0
|
35
|
0
|
52
|
|
Quarter 3
|
16
|
0
|
38
|
0
|
54
|
|
Quarter 4
|
23
|
0
|
176
|
0
|
199
|
|
Year 2023
|
Quarter 1
|
11
|
0
|
231
|
0
|
242
|
|
Quarter 2
|
27
|
1
|
414
|
0
|
442
|
|
Quarter 3
|
9
|
0
|
261
|
0
|
270
|
|
Quarter 4
|
18
|
0
|
666
|
0
|
684
|
|
Year 2024
|
Quarter 1
|
6
|
0
|
508
|
0
|
514
|
|
Quarter 2
|
38
|
1
|
655
|
0
|
694
|
|
Quarter 3
|
0
|
0
|
38
|
0
|
38
|
|
Total
|
165
|
2
|
3,022
|
0
|
3,189
|
