Electronic Documents Search

Documents found: 2

1

Analyzing Materials Using Joint X-Ray Fluorescence and Diffraction Spectra

Creators	Mikhailov Igor F.; Baturin Alexey A.; Mikhailov Anton I.
Collection	Электронные книги зарубежных издательств; Общая коллекция
Subjects	Fluorescence spectroscopy.; X-ray spectroscopy.; X-rays — Diffraction.; Materials — Analysis.; EBSCO eBooks
Document type	Other
File type	PDF
Language	English
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

pdf, 2.1 Mb

Rietveld refinement: practical pattern analysis using TOPAS

Creators	Dinnebier Robert E.,
Organization	ProQuest (Firm)
Collection	Электронные книги зарубежных издательств; Общая коллекция
Subjects	Rietveld method.; X-rays — Diffraction.; Crystallography.; EBSCO eBooks
Document type	Other
File type	PDF
Language	English
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

pdf, 6.6 Mb

1