|
№
|
Description
|
Arrival Date
|
|
2341
|
Дмитриева, Алина Вадимовна. Метод объективной опосредованной регистрации болевого синдрома: специальность 1.5.2. Биофизика: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Дмитриева Алина Вадимовна; научный руководитель Власова Ольга Леонардовна; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. — Санкт-Петербург, 2023. — 1 файл (1,49 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/r23-97.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/2/r23-97. — Текст: электронный
|
12/19/2023
|
|
2342
|
Ефанов, Д. В. Самодвойственные отказоустойчивые структуры с контролем вычислений по паритету. 2. Моделирование работы цифровых устройств при неисправностях = Self-dual fault-tolerant structures with calculations checking by parity code. 2. Modeling the operation of digital devices in case of faults / Д. В. Ефанов, Т. С. Погодина. — 1 файл (1,35 Мб). — (Информационно-коммуникационные технологии). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-6-838-853. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 838-853. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Продолжение. Начало: № 5. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=55172146>.
|
12/18/2023
|
|
2343
|
Особенности TCAD- и SPICE-моделирования удара заряженной частицы в 6T-ячейку статической памяти, изготовленную по КМОП-технологии с проектными нормами 28 нм = Features of TCAD- and SPICE simulation of a charged particle impact into a 6T SRAM cell manufactured using CMOS 28nm technology node / К. О. Петросянц, Д. С. Силкин, Д. А. Попов [и др.]. — 1 файл (611 Кб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-6-826-837. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 826-837. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=55172144>.
|
12/18/2023
|
|
2344
|
Высокоскоростной перестраиваемый КМОП-усилитель-ограничитель для приемника сигнала оптической линии = High-speed tunable CMOS limiter amplifier for optical line signal receive / А. В. Раков, И. В. Шевцов, О. В. Борин [и др.]. — 1 файл (1,39 Мб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-6-814-825. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 814-825. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=55172143>.
|
12/18/2023
|
|
2345
|
Королёв, Павел Владимирович. Противоизносные и фрикционные характеристики эластомерных материалов на основе каучуков СКИ-3 и СКС-30-АРКМ-15, армированных углеродными нанотрубками: специальность 2.5.3. Трение и износ в машинах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Королёв Павел Владимирович; научный руководитель Шилов Михаил Александрович; Ивановский государственный энергетический университет им. В. И. Ленина (ИГЭУ). — Иваново, 2023 (Санкт-Петербург, 2023). — 1 файл (1,66 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение). — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/r23-96.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/2/r23-96. — Текст: электронный
|
12/18/2023
|
|
2346
|
Методика оценки S-параметров высокоскоростных путей передачи сигналов в корпусах микросхем = Methodology for estimating S-parameters of high-speed signal transmission paths in chip packages / А. В. Раков, И. В. Шевцов, О. В. Борин [и др.]. — 1 файл (1,24 Мб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-6-802-813. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 802-813. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=55172142>.
|
12/18/2023
|
|
2347
|
Влияние потерь в соединениях при измерении коэффициента усиления и коэффициента шума на анализаторе спектра = Influence of cable loss on gain and noise figure measured using spectrum analyzer / Т. Ю. Крупкина, В. В. Лосев, С. Б. Беневоленский [и др.]. — 1 файл (454 Кб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-6-794-801. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 794-801. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=55172141>.
|
12/18/2023
|
|
2348
|
Соболев, В. А. Разработка RTL-модели генератора псевдослучайных чисел на основе регистров сдвига с нелинейной обратной связью в каскаде Голлмана = Development of an RTL model of a pseudorandom number generator based on nonlinear feedback shift registers in a Gollmann cascade / В. А. Соболев, В. В. Лосев. — 1 файл (736 Кб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-6-784-793. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 784-793. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=55172138>.
|
12/18/2023
|
|
2349
|
Вдовина, Елена Константиновна. Microeconomics = Микроэкономика: учебное пособие / Е. К. Вдовина, О. Н. Наумова; Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. — Санкт-Петербург, 2023. — 1 файл (4,73 Мб). — Загл. с титул. экрана. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — <URL:https://elib.spbstu.ru/dl/5/tr/2023/tr23-179.pdf>. — DOI 10.18720/SPBPU/5/tr23-179. — Текст: электронный
|
12/18/2023
|
|
2350
|
Исследования факторов, влияющих на сопротивление контактов в термоэлементах = Research of factors impacting contact resistance in thermoelements / Е. П. Корчагин, Е. В. Нагрешников, М. Ю. Штерн [и др.]. — 1 файл (508 Кб). — (Технологические процессы и маршруты). — DOI 10.24151/1561-5405-2023-28-6-773-783. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника = Proceedings of universities. Electronics: научно-технический журнал. – 2023. – С. 773-783. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=55172136>.
|
12/15/2023
|
