Last Arrivals

Documents found: 107 958

Description Arrival Date
82541 8/25/2016
82542 8/25/2016
82543 8/25/2016
82544 8/25/2016
82545 8/25/2016
82546
Панькин, Дмитрий Васильевич. Возможность применения спектроскопии комбинационного рассеяния света для оценки толщины интерфейсного слоя в сверхрешетках AlN/GaN = The applicability of Raman spectroscopy for estimation of interfaces thickness in the AlN/GaN superlattices [Электронный ресурс] / Д. В. Панькин, М. Б. Смирнов. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 671 КБ) // Научно-технические ведомости Санкт-Петербургского государственного политехнического университета. Сер.: Физико-математические науки = St. Petersburg state polytechnical university journal. Physics and mathematics: научное издание / Министерство образования и науки Российской Федерации. – Санкт-Петербург. – 2016. – № 2 (242) [Электронный ресурс]. — Загл. с титул. экрана. — Электронная версия печатной публикации. — Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование). — Текстовый файл. — Adobe Acrobat Reader 7.0. — <URL:http://elib.spbstu.ru/dl/2/j16-282.pdf>. — <URL:http://doi.org/10.5862/JPM.242.3>.
8/25/2016
82547 8/25/2016
82548 8/25/2016
82549 8/25/2016
82550 8/25/2016