Electronic Documents Search
Documents found: 98
-
Метрология и моделирование процессов измерений: учебное пособие
Creators Соловейчик Кирилл Александрович; Лисин Сергей Кузьмич; Федотов Алексей Иванович Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого Imprint Санкт-Петербург: ПОЛИТЕХ-ПРЕСС, 2020 Electronic publication Санкт-Петербург, 2020 Collection Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция Subjects Метрология; Измерения; Моделирование UDC 006.91(075.8); 53.08(075.8) Document type Tutorial File type PDF Language Russian Speciality code (FGOS) 27.04.06 Speciality group (FGOS) 270000 - Управление в технических системах DOI 10.18720/SPBPU/2/i20-76 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать) pdf, 7.5 Mb -
Other creators Смоленцева А. А. Organization Санкт-Петербургский государственный торгово-экономический университет (СПбГТЭУ) Imprint Санкт-Петербург: СПбТЭИ, 2008 Electronic publication Санкт-Петербург, 2021 Collection Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция Subjects Метрология; Стандартизация; сертификация; пищевые продукты UDC 006.9:641(075.8) Document type Tutorial File type PDF Language Russian Speciality code (FGOS) 27.00.00; 19.00.00 Speciality group (FGOS) 270000 - Управление в технических системах; 190000 - Промышленная экология и биотехнологии DOI 10.18720/SPBPU/2/si21-854 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 1.0 Mb -
Other creators Смоленцева Алла Алексеевна Organization Санкт-Петербургский государственный торгово-экономический университет (СПбГТЭУ) Imprint Санкт-Петербург: СПбТЭИ, 2009 Electronic publication Санкт-Петербург, 2021 Collection Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция Subjects Метрология; Пищевые предприятия; Документация UDC 006.91:664(075.8) Document type Tutorial File type PDF Language Russian DOI 10.18720/SPBPU/2/si21-846 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 0.9 Mb -
Creators Эпов Михаил Сергеевич Scientific adviser Журкин Евгений Евгеньевич Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого. Физико-механический институт Imprint Санкт-Петербург, 2022 Collection Выпускные квалификационные работы; Общая коллекция Subjects метрология; tdcr; абсолютный метод; метод двойных и тройных совпадений; удельная активность; лютеций-177; metrology; absolute method; double and triple coincidence method; specific activity; lutetium-177 Document type Bachelor graduation qualification work File type PDF Language Russian Level of education Bachelor Speciality code (FGOS) 03.03.02 Speciality group (FGOS) 030000 - Физика и астрономия DOI 10.18720/SPBPU/3/2022/vr/vr22-2666 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 1.6 Mb -
Физические основы электроники: учебное пособие
Creators Цветков Руслан Вадимович; Ванина Полина Юрьевна; Мешалкина Марина Николаевна; Ревина Оксана Сергеевна Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого Imprint Санкт-Петербург, 2024 Collection Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция Subjects Метрология; Контрольно-измерительные инструменты и приборы; Электроника UDC 006.91(075.8); 531.7(075.8); 621.38(075.8) Document type Tutorial File type PDF Language Russian Speciality code (FGOS) 27.03.01 Speciality group (FGOS) 270000 - Управление в технических системах DOI 10.18720/SPBPU/5/tr24-55 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 0.7 Mb -
Creators Мешалкина Марина Николаевна; Сушников Виктор Александрович; Цветков Руслан Вадимович Organization Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого Imprint Санкт-Петербург, 2024 Collection Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция Subjects Метрология; Контрольно-измерительные инструменты и приборы; поверка; калибровка; погрешность; неопределенность; учебники и пособия для вузов UDC 006.91(075.8); 531.7(075.8) Document type Tutorial File type PDF Language Russian Speciality code (FGOS) 27.03.01 Speciality group (FGOS) 270000 - Управление в технических системах DOI 10.18720/SPBPU/5/tr24-54 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 1.8 Mb -
Creators Семенов Константин Константинович Imprint Санкт-Петербург: ПОЛИТЕХ-ПРЕСС, 2020 Collection Общая коллекция Subjects Гидротехнические сооружения; Волны; Метрология UDC 626/627; 006.91 Document type Article, report File type PDF Language Russian DOI 10.18720/SPBPU/2/id20-172 Rights Свободный доступ из сети Интернет (чтение, печать, копирование) pdf, 0.5 Mb -
Creators Лидер В. В. Imprint 2022 Collection Общая коллекция Subjects Физика; Рентгеновские лучи. Гамма-лучи; рентгеновская оптика; активная рентгеновская оптика; адаптивная оптика; биморфные зеркала; волновые фронты (оптика); метрология; рентгеновские телескопы UDC 535-34/-36 LBC 22.346 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.21883/OS.2022.08.52910.65-21 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://elibrary.ru/item.asp?id=49508674 -
Creators Любченко Д. А.; Колмогоров О. В. Imprint 2024 Collection Общая коллекция Subjects Техника; Метрология; Физика; Экспериментальные методы и аппаратура оптики; фазовые дальномеры; лазерные дальномеры; измерение длины; точность измерения длины; повышение точности измерений; фурье-анализ; phase range finders; laser range finders; length measurement; length measurement accuracy; crease in measurement accuracy; fourier-analysis UDC 389; 681.7 LBC 30.10; 22.341 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.17586/1023-5086-2024-91-04-82-92 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://eivis.ru/browse/issue/13574882/viewer?udb=12&page=84 -
Creators Королев А. Н.; Лукин А. Я.; Филатов Ю. В.; Венедиктов В. Ю. Organization Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям Imprint 2024 Collection Общая коллекция Subjects Механика; Измерение механических и геометрических величин; Техника; Метрология; матричная технология измерений; фотошаблоны; контроль фотошаблонов; измерение координат элементов; точность измерения координат; матричные измерители; matrix measurement technology; photomasks; photomask control; element coordinate measurement; coordinate measurement accuracy; matrix meters UDC 531.7; 389 LBC 22.21; 30.10 Document type Article, report File type Other Language Russian DOI 10.17586/1023-5086-2024-91-03-115-123 Rights Доступ по паролю из сети Интернет (чтение) https://eivis.ru/browse/issue/13342662/viewer?udb=12&page=117