Electronic Documents Search

Documents found: 64

Электроника и схемотехника. Полупроводниковые приборы: устройство, принцип действия, применение в усилителях: учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки «Техническая физика»

Creators	Новиков Юрий Николаевич; Усов Владимир Сергеевич
Organization	Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
Imprint	Санкт-Петербург: Изд-во Политехн. ун-та, 2010
Electronic publication	Санкт-Петербург, 2020
Collection	Учебная и учебно-методическая литература; Общая коллекция
Subjects	Электроника; Полупроводниковые приборы
UDC	621.382(075.8)
Document type	Tutorial
File type	PDF
Language	Russian
Speciality code (FGOS)	16.00.00; 11.00.00
Speciality group (FGOS)	160000 - Физико-технические науки и технологии; 110000 - Электроника, радиотехника и системы связи
DOI	10.18720/SPBPU/2/si20-20
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение, печать, копирование)

pdf, 22 Mb

Электрические флуктуации и двухзарядные ловушки в полупроводниках // Инженерная физика: научно-технический журнал. – 2022. – № 12. — С. 33-38

Creators	Якубович Б. И.
Imprint	2022
Collection	Общая коллекция
Subjects	Физика; Физика полупроводников и диэлектриков; полупроводники; двухзарядные ловушки (физика); электрические флуктуации; полупроводниковые дефекты; спектры флуктуаций; электрические шумы; полупроводниковые приборы; semiconductors; two-charge traps (physics); electrical fluctuations; semiconductor defects; fluctuation spectra; electrical noise; semiconductor devices
UDC	537.311.33
LBC	22.379
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.25791/infizik.12.2022.1304
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49954934

Термическая стабильность толстых пленок на основе низко-температурных термоэлектрических материалов систем Bi-Te-Se и Bi-Te-Sb, модифицированных добавками оксида меди // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 3. — С. 281-286

Creators	Бабич А. В.; Волощук И. А.; Шерченков А. А.; Переверзева С. Ю.; Глебова Д. Д.; Бабич Т. А.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; Энергетика; Электрический нагрев; термоэлектрические материалы; низкотемпературные термоэлектрические материалы; толстые пленки (электроника); термическая стабильность; модифицирование добавками; оксид меди; термоэлектрические генераторы; thermoelectric materials; low-temperature thermoelectric materials; thick films (electronics); thermal stability; modification by additives; copper oxide; thermoelectric generators
UDC	621.382; 621.36
LBC	32.852; 31.292
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-3-281-286
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54011390

Унифицированные схемотехнические решения аналоговых арсенид-галлиевых микросхем // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2022. – Т. 27, № 4. — С. 475-488

Creators	Дворников О. В.; Павлючик А. А.; Прокопенко Н. Н.; Чеховский В. А.; Кунц А. В.; Чумаков В. Е.
Imprint	2022
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; микросхемы; арсенид-галлиевые микросхемы; аналоговые микросхемы; схемотехнические решения; биполярные транзисторы; гетеропереходы; компараторы; microchips; gallium arsenide chips; analog chip; circuit solutions; bipolar transistors; heterojunctions; comparators
UDC	621.852
LBC	32.852
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2022-27-4-475-488
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://elibrary.ru/item.asp?id=49396192

Тепловое сопротивление светодиодов на основе узкозонного твердого раствора InAsSb // Оптика и спектроскопия. – 2023. – Т. 131, № 11. — С. 1502-1504

Creators	Закгейм А. Л.; Климов А. А.; Лухмырина Т. С.; Матвеев Б. А.; Черняков А. Е.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; светодиоды; тепловое сопротивление; твердые растворы; узкозонные твердые растворы; ИК светодиоды; температурные коэффициенты; коэффициент прямого напряжения; температурночувствительные параметры
UDC	621.382
LBC	32.852
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.61011/OS.2023.11.57012.5201-23
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://elibrary.ru/item.asp?id=60019307

Методика итерационного уточнения значений параметров в аналитических моделях микроэлектронных устройств // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2022. – Т. 27, № 5. — С. 645-651

Creators	Синюкин А. С.; Ковалев А. В.
Imprint	2022
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; Энергетика; Преобразователи, выпрямители, инверторы; микроэлектронные устройства; аналитическое моделирование; параметры микроэлектронных устройств; итерационное уточнение параметров; МОП-транзисторы; интегральные МОП-транзисторы; физические модели МОП-транзисторов; microelectronic devices; analytical modeling; parameters of microelectronic devices; iterative refinement of parameters; MOSFETs; integrated mosfets; physical models of mosfets
UDC	621.382; 621.314
LBC	32.852; 31.264
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2022-27-5-645-651
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=49562239

A method for minimizing aging influence on rail-to-rail operational amplifier with thin oxide transistors // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 3. — С. 351-359

Creators	Melikyan V. Sh.; Ghukasyan S. A.; Harutyunyan S. S.; Voskanyan G. A.; Asatryan N. A.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Энергетика; Детали и узлы электрических аппаратов; Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; operational amplifiers (radioelectronics); transistors; oxide transistors; transistor aging; semiconductors; rail-to-rail design method; операционные усилители (радиоэлектроника); транзисторы; оксидные транзисторы; тонкие оксидные транзисторы; старение транзисторов; полупроводники; метод проектирования rail-to-rail
UDC	621.3; 621.382
LBC	31.264-04; 32.852
Document type	Article, report
File type	Other
Language	English
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-3-351-359
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54011395

Исследование влияния плазменной обработки на свойства сформированных химическим осаждением из газовой фазы тонких пленок нитрида титана // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2022. – Т. 27, № 6. — С. 715-722

Creators	Горностай-Польский В. С.; Шевяков В. И.
Imprint	2022
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; нитрид титана; МДП-структуры; пленки нитрида титана; газовые фазы; химическое осаждение; свойства пленок нитрида титана; плазменная обработка; titanium nitride; TIR structures; titanium nitride films; gas phases; chemical deposition; properties of titanium nitride films; plasma treatment
UDC	621.382
LBC	32.852
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2022-27-6-715-722
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://elibrary.ru/item.asp?id=49993425

Прогнозный контроль радиационной стойкости микросхем в серийном производстве. 2. Выбор объектов испытаний и статистическая обработка результатов контроля // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 3. — С. 337-350

Creators	Московская Ю. М.; Бойченко Д. В.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; микросхемы; радиационная стойкость микросхем; контроль радиационной стойкости; прогнозный радиационный контроль; серийное производство; результаты контроля; статистическая обработка; microchips; radiation resistance of chips; radiation resistance control; predictive radiation control; serial production; control results; statistical processing
UDC	621.382
LBC	32.852
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-3-337-350
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54011394

Особенности контроля трехмерного профиля элементов и структур наноразмерных ИС.: обзор // Известия высших учебных заведений. Электроника: научно-технический журнал. – 2023. – Т. 28, № 3. — С. 298-325

Creators	Нелюбин И. В.; Путря М. Г.
Imprint	2023
Collection	Общая коллекция
Subjects	Радиоэлектроника; Полупроводниковые приборы; Физика; Физика твердого тела. Кристаллография в целом; обзоры; интегральные схемы; микросхемы; наноразмерные ИС; структура наноразмерных ИС; трехмерный профиль элементов; контроль профиля элементов; reviews; integrated circuits; chips; nanoscale ICS; structure of nanoscale ICS; three-dimensional profile of elements; element profile control
UDC	621.382; 539.2
LBC	32.852; 22.37
Document type	Article, report
File type	Other
Language	Russian
DOI	10.24151/1561-5405-2023-28-3-298-325
Rights	Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)

https://www.elibrary.ru/item.asp?id=54011392