Вход в систему
Инструкция по поиску

Последние поступления

Найдено документов: 190 588

№ Описание Дата поступления
271
Ильин, С. А. Особенности проектирования многоразрядных триггеров для уменьшения потребляемой мощности в базисе отечественной полупроводниковой технологии КМОП КНИ с проектными нормами 250 нм = Design features of multi-bit flip-flops for reducing power consumption in domestic semiconductor technology CMOS SOI 250 nm / С. А. Ильин, О. В. Ласточкин, М. В. Харламова. — 1 файл (722 Кб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-498-504. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 498-504. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=92057862>.
22.09.2026
272
Микромощный динамический компаратор с полным диапазоном входных сигналов для многоканальных АЦП = An ultra-low power dynamic comparator with rail-to-rail input capability for multichannel ADC applications / Д. С. Лобанков, С. И. Ямалиев, И. О. Головин [и др.]. — 1 файл (820 Кб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-487-497. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 487-497. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://elibrary.ru/item.asp?id=92057861>.
22.09.2026
273
Коробок, М. А. Влияние параметров резонансного контура и выходного фильтра на динамические характеристики LLC-преобразователя = Influence of the resonant circuit and the output filter parameters on the dynamic characteristics of the LLC converter / М. А. Коробок, М. Е. Хлыстунов, И. С. Шемолин. — 1 файл (779 Кб). — (Схемотехника и проектирование). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-473-486. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 473-486. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057860>.
21.09.2026
274
Исследование и статистический анализ параметров ячеек памяти в мемристорных кроссбарах на основе диоксида циркония, стабилизированного иттрием = Investigation and statistical analysis of memory cell parameters in memristive crossbar arrays based on yttria-stabilized zirconia / Г. Д. Жарков, А. И. Белов, Д. И. Большаков [и др.]. — 1 файл (742 Кб). — (Элементы интегральной электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-460-472. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 460-472. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057859>.
21.09.2026
275
Численное исследование генерации второй гармоники в мезопористых наночастицах Si/SiO[2] = Numerical study of second harmonic generation in mesoporous Si/SiO[2] nanoparticles / А. С. Фунтикова, А. М. Можаров, В. А. Шаров [и др.]. — 1 файл (586 Кб). — (Элементы интегральной электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-451-459. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 451-459. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057858>.
21.09.2026
276
Система анализа изображений микроскопии на базе одноплатного компьютера с процессорной архитектурой RISC-V = Microscopy image analysis system based on a single-board computer with RISC-V processor architecture / Д. В. Симонова, А. Е. Савкин, П. А. Шагалова, Э. С. Соколова. — 1 файл (519 Кб). — (Элементы интегральной электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-440-450. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 440-450. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057857>.
21.09.2026
277
Идентификация микросхем на основании контроля цепей питания = Identification of microcircuits based on power supply circuit monitoring / В. А. Рогачев, П. А. Горбоконенко, А. А. Гераськин, Е. Ф. Певцов. — 1 файл (438 Кб). — (Элементы интегральной электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-433-439. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 433-439. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057856>.
21.09.2026
278
Исследование влияния электрического тока на свойства и морфологию ГКР активной пленки Ag-Nb для фотонной сенсорики = Study of the electric current impact on the properties and morphology of SERS active Ag-Nb film for photonic sensors / Ю. В. Чумаченко, Д. В. Новиков, С. В. Дубков [и др.]. — 1 файл (2,09 Мб). — (Материалы электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-422-432. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 422-432. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057855>.
21.09.2026
279
Орлова, К. Н. Деградация характеристик гетероструктур AlGaInP при облучении гамма-квантами = Degradation of the characteristics of AlGaInP heterostructures under gamma-quantum irradiation / К. Н. Орлова, А. В. Градобоев, А. В. Беклемишева. — 1 файл (661 Кб). — (Материалы электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-414-421. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 414-421. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057854>.
21.09.2026
280
Влияние газовой среды, температуры и облучения на электрофизические свойства наноструктурированного TiO[2] = Influence of the gaseous medium, temperature, and UV-visible irradiation on the electrophysical properties of nanostructured TiO[2] / М. Д. Кружалина, Л. И. Сорокина, А. О. Якубов [и др.]. — 1 файл (578 Кб). — (Материалы электроники). — DOI 10.24151/1561-5405-2026-31-4.3-401-413. — Текст: электронный // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2026. – Т. 31, № 4, ч. 3. — С. 401-413. — Загл. с титул. экрана. — Список литературы представлен на русском и английском языках. — Доступ по паролю из сети Интернет (чтение). — <URL:https://www.elibrary.ru/item.asp?id=92057853>.
21.09.2026